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电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜
电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜是由德国PANCO公司与德国宇航中心联合研发的热电材料精细测量设备，该设备主要用来测量热电材料中电势和塞贝克系数的二维分布情况。集成化、自动化的设计方案使系统使用非常方便。**的稳定性和可靠性彰显了传统德国制造业的优良品质。全新推出的第二代电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜（PSM II）在**代的基础上具有更高的位置分辨率和更高的测量精度。
产品特点：
+ **可以精确测量Seebeck系数二维分布的商业化设备。
+ 精确的力学传感器可以确保探针与样品良好的接触。
+ 采用锁相技术，精度超过大型测试设备。
+ 快速测量、方便使用，可测块体和薄膜。
主要技术参数： + 位置定位精度：单向 0.05 μm；双向 1 μm + **扫描区域：100 mm × 100 mm 典型值 + 局部测量精度：5 μm（与该区域的热传导有关） + 信号测量精度：100 nV（采用高精度数字电压表） + 测量结果重复性：重复性误差优于3% + 塞贝克系数测量误差：< 3% (半导体)；< 5% (金属) + 电导率测量误差： < 4% + 测量速度：测量一个点的时间4-20秒 | 应用领域： 1、热电材料，超导材料，燃料电池，导电陶瓷以及半导体材料的均匀度测量 2、测量功能梯度材料的梯度 3、观察材料退化效应 4、监测 NTC/PTC 材料的电阻漂移 5、固体电介质材料中的传导损耗 6、阴极材料的电导率损耗 7、GMR 材料峰值温度的降低，电阻率的变化 8、样品的质量监控 |
系统组成部分
+ 三矢量轴定位平台及其控制器 + 定位操纵杆 + 加热、测温探针 + 力学接触探测系统 + 模拟多路器 | + 数字电压表 + 锁相放大器 + 摄像探测系统 + 带有专用控制软件和数据接口的计算机 + 样品台与样品夹具 |
样品夹具 | 加热测温探针 |
部分测试数据
1、塞贝克系数测量
Bi2Te2.85Se0.15梯度材料表面的塞贝克系数分布（数据来源，PANCO实验室）
2、接触电阻测量
存在界面的样品通过该设备还可以测量出界面处的接触电阻。通过测量电阻率随针尖位置的变化，可以得到样品界面处的接触电阻。
接触电阻可以通过连续测量界面两侧的电势分布计算得到，图中ΔR正比于接触电阻。（数据来源，PANCO实验室）
全球部分用户名单：
Beijing University of Technology
Corning Company
Korea Research Institute of Standards and Science
Shanghai Institute of Ceramics， CAS
Germany Air Force Research Lab
Simens Company
Gwangju Institute of Science and Technology
Hamburg University
Munich University
