粉体行业在线展览

产品

产品>

分析仪器设备>

光学仪器及设备

>半导体结深自动测量系统

半导体结深自动测量系统

直接联系

天津徕科光学仪器有限公司

上海

产品规格型号
参考报价:

面议

关注度:

469

产品介绍

仪器简介:

一种能自动实时测量扩散结深的光学测量系统.该系统是对磨槽机在硅片上的磨槽进行测量来获得扩散结深数据的.

技术参数:

1,测量方式

实时影像测量,无须拍照后测量

2,测量模式

自动测量,无须鼠标取点或取边

3,统计功能

**值、*小值、平均值、极差、方差、标准差、离散系数等;同时处理多个管制项目;实时显示统计数据,并可以根据用户要求增加统计项目

报表系统 采用智能化选择性数据输出技术,实现“待测工件→测量参数→专用报告→品管统计”数据流自动化

主要特点:

快速,实时,精确,可靠

产品咨询

半导体结深自动测量系统

天津徕科光学仪器有限公司

请填写您的姓名:*

请填写您的电话:*

请填写您的邮箱:*

请填写您的单位/公司名称:*

请提出您的问题:*

您需要的服务:

发送

中国粉体网保护您的隐私权:请参阅 我们的保密政策 来了解您数据的处理以及您这方面享有的权利。 您继续访问我们的网站,表明您接受 我们的使用条款

半导体结深自动测量系统 - 469
天津徕科光学仪器有限公司 的其他产品

FLOW

光学仪器及设备
相关搜索
关于我们
联系我们
成为参展商

© 2024 版权所有 - 京ICP证050428号