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硅太阳电池光谱性能测试系统

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北京赛凡光电仪器有限公司

北京

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产品介绍

测试对象

单晶硅、多晶硅太阳电池;**尺寸 156mm x 156mm

测量项目

硅电池的**光谱响应,外量子效率,光谱透过率,短路电流密度

主要指标

  • 光谱范围:360-1100nm
  • 扫描间隔:≥1nm 整数(可调)
  • 扫描方式:全自动
  • 短路电流密度重复性:<1%
系统特点

  • 模块化测试系统同样可以实现一体机的测试功能,由多个模块组成,可以灵活调整,满足不同的应用需求,方便升级。
  • IQE和EQE同点同时测量
  • 大功率连续光源,输出光谱平缓无尖峰,保证测量重复性
  • 独特**的分光系统,保证良好的波长准确度和重复性,消除多级谱的影响,杂散光小。
  • 超强弱信号处理能力,有效提高信噪比,保证测量精度
  • 独特的样品室及样品架设计,夹持方便,电极接触好,对弱信号测试干扰小
  • 完整的全自动化专用系统软件
  • 集成了分光系统、多级谱滤除装置、弱信号处理系统等的参数设置和选择
  • 自动扫描、信号放大、A/D、数据采集和处理,图表文件自动生成、显示
  • 多种格式的数据和图片备份和打印输出功能
  • 多组数据对比功能
  • 粗大误差的自动去除,系统误差、线性误差、周期误差、T误差的自动校验

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硅太阳电池光谱性能测试系统

北京赛凡光电仪器有限公司

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硅太阳电池光谱性能测试系统 - 333
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