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XB1152 测试平台

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品牌：

芯晖装备

型号：

XB1152 测试平台

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产品介绍

1. 非易失存储器晶圆级BIST测试平台。
2. 通过提高并行测试数量，缩小测试机外形体积等设计显著降低了测试成本（COT）。
3. 搭配具有12个测试单元的一体prober使用，节省大量的设备占用空间。
4. 成熟的自动控制系统实现自动化测试。
5. 高MTBF，低MTTR。
6. 全球装机量超过4000台。

应用场景	NAND/NOR Flash
Test Speed	同测数高达1152 个DUTS
Image Capture Speed	每个DUT分配独立的4个pins, 2 DR pins + 1 I/O pin + 1 Power Pin
工作频率	20 MHz
电源范围	0 ~ 4 V 200 MA 每个DUT

获取更多信息，请访浙江芯晖装备技术有限公司网站

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