高分辨率X射线三维检测系统是一种能够检测任何物体并在检测中保持物体不被损坏的一种检测方式。现已成为工业、材料、环境、生命科学等领域中常见的检测方法之一适用于对样品进行无损检测、故障分析、过程控制等。

ProCon X-Ray GmbH作为先进的X射线计算机断层扫描系统的制造商，在微纳米级CT用于3D故障分析和3D计量等，已拥有10多年的检测经验。ProCon X-Ray推出的3D和4D CT（带运动的3D）分析系统能提供高品质的图像，帮助您在质量控制需求中提供高分辨性和差异化的功能。

CT-COMPACT NANO是一款紧凑的台式高分辨率X射线三维检测系统，满足各种高应用需求。除塑料和陶瓷外，ProCon X-Ray GmbH的CT-COMPACT可计算测试吸收材料，如金属和更大的测试件，具有优异的可视化质量。

节省空间的CT-COMPACT NANO可根据客户要求配备高达160 kV的微焦X射线管。为了优化对比度，可以改变检测器距离。对于高放大倍率，可以使用不同的平板探测器。水平定向的X射线束使CT扫描不受重力影响。

CT-COMPACT NANO非常适用于非破坏性测试、材料分析和尺寸测量，尤其适用于内部结构、底切和自由曲面的检测。

适用于广泛的行业：石油和天然气、汽车、电源、牙齿、航天、大学研究等。

特征

·操作简便

·非接触式计量

·兴趣量-扫描

·质量控制独立于材料

·缺陷识别（空洞，裂缝......）

·不同的重建算法过滤反投影，代数，统计

·多个扫描轨迹Circular，Helix，Planar等等

·许多扫描轨迹的视野扩展

·体积缩放（Hounsfield）

·环形伪像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金属伪影减少

·用于漂移补偿的抖动校正

·相位和暗场对比度选项

·用于编写脚本的Matlab / Python / Labview界面

·批处理和扫描计划

·时间分辨CT扫描（4D CT）

·原位选项

·实时CT重建

·使用Flat- panel探测器快速扫描<10秒

·“Industriepreis 2018”-获奖者