X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪

X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供***的产品和*完善的解决方案。

X射线荧光镀层测厚仪产品用途：

由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛;

在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。

在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。

在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。

对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。

在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段

对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能**胜任。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。

我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。