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塞贝克系数/电阻测量系统

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产品介绍

塞贝克系数/电阻测量系统ZEM-3

——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻

塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点,塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。

设备特点:

◆ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;

◆ 测量是由计算机控制的,并且能够在指定的温度下执行测量,并允许自动测量消除背底电动势;

◆ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);

◆ 可以用适配器来测量薄膜;

◆ 可定制高阻型。

参数配置:

型号

ZEM-3M8

ZEM-3M10

温度范围

50-800℃

50-1000℃

样品大小

方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形φ2-4mm*6-22mmL

加热方式

红外加热

气氛

高纯氦气(99.999%)

样品温差

MAX.50℃

测量方式

电脑全自动测量

工作原理图:

设备结构:

样品腔部分:

应用方向:

对于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的热电性能分析。

可选功能:

  1. 薄膜测量选件

2. 低温选件(温度范围-100℃到200℃)

3. 高阻选件(**到10MΩ)

附:

热电材料/器件测试设备

热电材料测试设备

热电转换效率测试设备

用户单位

清华大学

中国科学技术大学

上海交通大学

复旦大学

南方科技大学

武汉理工大学

中国科学院上海硅酸盐研究所

中国科学院大连化学物理研究所

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塞贝克系数/电阻测量系统

量子科学仪器贸易(北京)有限公司

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