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四探针测试系统（for 300/450mm wafer）

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产品介绍

产品简介：

该款设备是一种用于测量硅片和太阳能电池片电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的，具有多种数据分析、绘图等功能.

产品特点：

- X，Y，Z轴全自动系统

- 自动范围选择

- 300/450 mm晶片和太阳能电池系统

-通过操作软件完善远程控制

- 数据分析(2D、3D地图/数据地图/趋势图等)

- ASTM， SEMI 测量模式

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四探针测试系统（for 300/450mm wafer）

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