粉体行业在线展览
MCPD系列
面议
大塚电子
MCPD系列
4492
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分光光谱仪种类
MCPD-9800:高动态范围分光
MCPD-6800:紫外/可见/近红外光分光光谱仪
MCPD-7700:高感度分光
膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜
膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜
LB膜测量
蒸馏膜测量
多点膜厚测量
半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剥离液厚度、湿狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)
树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近红外光谱分析仪(点击可看详细资料)
火焰光度计
Metorex C100型
UV9600D
ARL™ PERFORM'X
全谱直读光谱仪