粉体行业在线展览
粉体行业在线展览
直接联系
AMPTEK INC.
美国
面议
757
Amptek获得**的“ C系列” X射线窗利用氮化硅（Si3N4）和铝涂层来将我们的硅漂移检测器（SDD）的低能量响应扩展到硼（Be）。
C1 Windows：实验室，台式和手持式仪器。
C2 Windows：扫描电子显微镜（SEM）中的真空应用程序和EDS（EDX）。C2窗在*低能量下具有更高的效率
C2窗FASTSDD测试Be和C谱图
C2窗与聚合物窗效率对比
FASTSDD典型分辨率
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能谱仪
ARL X'TRA Companion X射线衍射仪
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M
