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K-T G200/I-Nano/Insitu微纳米力学测试

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产品介绍

美国K-T公司是全球微纳米力学测试设备技术的开创者,全球**台纳米力学测试系统于上世纪80年代初在公司前身诞生,多种测量方法和物理模型来自该公司。经过30多年不断努力和改进,该公司微纳米力学测试不仅实现了静态到动态的测试,同时实现了与光学、电学等设备连用的原位材料力学、微结构学甚至成份学的多手段原位测试功能。当前国标已经引入该公司**的CSM连续刚度技术,在该领域具有很高的权威性。K-T在连续刚度(CSM)、高分辨、扫描成像、快速测试方面拥有独特技术。K-T是该领域**跨国公司,中国设有地区总部,拥有*专业的技术支持和售后服务人员。

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