粉体行业在线展览
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
面议
昂坤视觉
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
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检测缺陷类别Defect types
l 缺陷尺寸:0.5um or above
l 常规检测:电极异常、外延层脱落、切割道异常、发光区异常、残金、双晶、外延异常
l 深度学习系统与神经网络算法,可以对缺陷类别进行精准分类
l 支持用户定义或协商定制缺陷类别,但增加缺陷类别可能会影响产能
F2000 集成电路前道晶圆缺陷检测设备
图形化晶圆缺陷检测设备
E3200 GaN缺陷检测设备
E1000 化合物半导体缺陷检测设备
E3500 SiC 缺陷检测设备
F300-PSS PSS 缺陷检测设备
F300-EPI GaAs
COW/COT AOI芯片缺陷检测设备
F300-DPW
SPI300 晶圆形貌测量与分选设备
MOCVD在线监测系统 viperRTC-LSD
MOCVD在线监测系统 viperRTC–LSS
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
金属称重检测一体机
BSD-PB(气液法)
片式电容四参数测试机
0~10%糖度
三路浮子流量计 MFC-3F
Oilwear 在线油液清洁度检测仪
GJT-2F系列金属探测仪