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P-7建立在市场**的P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了P-17技术的**测量性能,并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。
XRD-晶向定位
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等离子体增强化学气相沉积系统CVD
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