X-Ray荧光测厚仪，通过X射线原理，是目前*方便快捷的镀层测厚方法，产品无须破坏，约20秒完成测量整个过程。博曼测厚仪，2009年，位于美国芝加哥的团队，创立了博曼Bowman，在原CMI的基础上，研发更名为博曼，更为高端的精密XRF镀层测厚仪。2012年发布了全新BA-100系列机型，使用SDD探测器技术XRF系统，是**性价比机型。美国博曼镀层测厚仪，也叫膜厚仪，源自于CMI牛津团队，2018年博曼发布了全球*小光斑7.5um FWHM的多导毛细管机型，完善了从经济型号到端型号的系列产品线，团队深耕XRF镀层测厚仪事业三十余年，曾经创立了测厚仪全球知名的CMI品牌，具有代表性的机型。