对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。

M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力，从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件，Panel，模组；寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。

-相对寿命测试

-相对I-V-L试验

-老化测试

-多电流/光电流范围

-方序列运算

-利用温/湿控制腔室进行加速测试