飞行时间法（TOF）测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键，T3000飞行时间测量系统基于

脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.

- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量