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半导体晶圆检查系统
面议
普瑞斯通
半导体晶圆检查系统
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兼容广适
新一代晶圆传送系统专为应对第三代化合物半导体材料的应用而生,特别是针对透明晶圆产品。我们采用了全新设计,不仅**兼容传统的Si晶圆,还广泛支持GaAs、GaN、SiC等多种类型的晶圆,同时展现出对透明晶圆产品的**处理能力,确保在各种材料上的高效稳定运行。
高效易控
能自动处理4寸、6寸、8寸晶圆。系统内置安全可靠的卡匣扫描、传片、宏观检查及定位模组,全中文操作界面友好易上手。**的光学成像系统支持宏观与微观检查,而高效的数据处理系统则能精准统计并分析瑕疵与缺陷,为您的晶圆生产提供全方位保障。
多材适用
广泛适用于多种材质的晶圆处理,包括但不限于硅(Si)、碳化硅(Sic)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)以及玻璃(Glass)等,展现了极高的兼容性和适应性,满足不同材质晶圆的生产需求。
支持定制
搭载精密光学系统,其中包括先进的预对焦(Pre-focus)功能,以及金相观察的专业配置。我们提供高度定制化的服务,根据客户的特定需求,可灵活选择配置如电子地图(E-map)、光学字符识别(OCR)以及预对焦等高级功能,确保满足多样化的应用需求与性能期望。
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