粉体行业在线展览
台式薄膜厚度测量系统
面议
科毅科技
台式薄膜厚度测量系统
1032
F20 系列
世界上*畅销的台式薄膜厚度测量系统
只需按下一个按钮,您在不到一秒钟的同时测量厚度和折射率。
设置同样简单,只需插上设备到您运行Windows™系统电脑的USB接口,并连接样品平台,F20已在世界各地有成千上万的应用被使用。
事实上,我们每天从我们的客户学习更多的应用。
选择F20主要取决于您需要测量的薄膜的厚度(确定所需的波长范围)
包含的內容:
集成光谱仪/光源装置
FILMeasure 8 软件
FILMeasure 独立软件(用于远程数据分析)
SS-3 样品平台
参考材料
厚度标准
整平滤波器(用于高反射基板)
备用灯
型号规格
| 型號 | 厚度範圍* | 波長範圍 |
|---|---|---|
| F20 | 15nm - 70μm | 380-1050nm |
| F20-EXR | 15nm - 250μm | 380-1700nm |
| F20-NIR | 100nm - 250μm | 950-1700nm |
| F20-UV | 1nm - 40μm | 190-1100nm |
| F20-UVX | 1nm - 250μm | 190-1700nm |
| F20-XT | 0.2μm - 450μm | 1440-1690nm |
| F3-sX 系列 | 10μm - 3mm | 960-1580nm |
电脑组合体系VG42
UNI800C多物料配料控制仪
在线HPXRF检测设备
PicoFemto扫描电镜原位液体-电化学测量系统
在体皮肤拉曼分析仪
金属称重检测一体机
BSD-PB(气液法)
佐竹搅拌扭矩测试仪
μBenchCAT 反应评价装置系列
便携式pH计 Pro2Go
电子天平
HTR