半导体行业专用仪器-Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪-上海瞬渺光电技术有限公司-产品详情

Sinton Instruments+BCT400+少子寿命测试仪

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产品介绍

少子寿命测量仪BCT-400

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的*敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为*易于使用的测量工具－－BLS，只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话，请选择BCT-400。

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