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深圳市易捷测试技术有限公司
日本
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ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的*终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
HANWA是EOS/ESD标准委员会的成员，积极参与制定国际标准。
汉瓦是日本**的ESD测试仪制造商，并在世界范围内提供产品和服务。
Hanwa CDM测试机
l符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l可快速转换不同标准的测试
l台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
l 配备的CCD摄像机
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以测量每个引脚的电容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
符合所有主要国际标准：
Standard | StandardNumber | Method | Calibrationtool | |
1 | ESDA/JEDEC JointStandard | ANSI/ESDA/JEDECJS-002-2014 | FI-CDM | Small/Largecoin(disk) |
2 | JEDEC | JESD22-C101F | FI-CDM | Small/Largecoin(disk) |
3 | ESDA | ANSI/ESDS5.3.1-2009 | FI-CDM orD-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module(*2) |
4 | AEC | AEC - Q100-011 Rev-C1 | FI-CDM orD-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module(*2) |
5 | JEITA | JEITA ED-4701/302 (Method305C) | D-CDM | Small/Largecoin(disk) + FR-4board |
